晶振損壞會有哪些特征(手機晶振損壞現(xiàn)象)
發(fā)布日期:2020-09-01
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晶振損壞會有哪些特征(手機晶振損壞現(xiàn)象)
如今,我們不能離開沒有手機的日子,而手機依賴于一個比米粒還小的晶振,它決定了整個電路板的"生死"。如果它不能工作,整個系統(tǒng)就會癱瘓,它相當于電路板的心臟。
晶振損壞可分為兩類,一類是徹底停振,二類是具有不穩(wěn)定性。
一、徹底停振:
如果晶振停止徹底停振,手機可能無法正常打開,就像心臟突然停止跳動一樣,使用晶振作為時鐘信號的電路將停頓。
在發(fā)生徹底停振時的解決辦法:
當徹底損壞時,可將其拆下并與同類型的集成電路進行比較,以測量每個引腳對地的正向和反向電阻,而且始終可以發(fā)現(xiàn)一個或多個引腳的異常電阻值。
二、具有不穩(wěn)定性:
不穩(wěn)定的原因很多,這可能是晶振的質(zhì)量問題,更主要的原因是晶振的參數(shù)與電路參數(shù)不匹配。例如系統(tǒng)要求精度20ppm,而晶振參數(shù)只有50ppm,再或者匹配電容要求12PF,而實際電容只有9PF諸多原因。
不穩(wěn)定的解決辦法:
咨詢專業(yè)晶振供應(yīng)商,計算正確的電容匹配值以取代晶振,或更換外掛電容。如果更換精度合適的晶振,如果有其他問題,可以用無水酒精冷卻可疑的集成電路,如果故障時間延遲或不再發(fā)生故障,就可以確定。通常只能更換新的集成電路來排除它們。